open-short 量測設備

與傳統的Open-Short測試儀相比,iOST的出色設計具有更高的速度、更準確、更智慧的使用體驗。為客戶提供半導體封裝測試流程的最高效率和品質。

  • 高引腳計數:
    最大通道數高達 16,384。基於即時多工處理設計,即使運行16,384CH系統,延遲時間也比上一代2,048CH系統縮短50%。一個主機殼最多支援2,048個通道(每個主機殼有16個CH板,每128CH為一個CH板),LB電纜與上一代系統完全相容。
  • 高性能:
    • 高精度:所有系統電路設計均採用新一代工業標準元件進行精密測量(OPA、PGA、ADC、DAC…),提高了精度、精度、更高速度和更低的溫度漂移。
    • 高可靠性:內置高精度的參考電壓和智慧自校準電路。整個系統採用低功耗設計,測量單元的電路完全隔離,在嘈雜的環境中提供最穩定可靠的資料。”一鍵自校準”是一種簡單而智慧的設計,可簡化傳統複雜而繁瑣的校準工作,使 iOST 在任何環境和任何時間保持最佳狀態,確保測試操作始終正確。
    • 高速:iOST不僅保留了傳統的儀器指揮控制設計,還內置了主動測試程式處理單元,可自動完成所有測量工作。同時,PC可以並行處理和分析測試結果。專用的即時多工通道開關設計可以大大縮短信號延遲,即使運行16,384個通道,OST測試時間的影響也是非常有限的。
  • 聰明:
    • 自動學習:簡單的參數設置和增強的演算法可以使結果分析更加正確,測試條件更完整,達到立即測試和生產的目的。同時,iOST 與測試程式的早期版本相容,您可以更新開短測試程式,而無需重新創建測試程式。iOST 內置每個通道的電壓、電流和阻抗統計功能。與 I-V 曲線和 V-T 曲線的圖形分析功能相匹配,使工程師能夠更快、更智慧地完成測試程式穩定性的驗證,並執行調試和校正測試程式的弱設置。
    •  完全自行診斷:HP16 系列 iOST 配備專有的 Diag-Board,採用高精度/低溫漂移電路設計,支援精確的 DUT 模擬和標準負載測試。還支援自驗證功能,如APMU力/測量精度驗證、LB電纜阻抗品質驗證、CH-板洩漏驗證、二極體曲線測試等。在大規模生產操作中出現問題時,可快速疑難排解並最大限度地減少損失。
    •  精密自校準:iOST採用精確、穩定的參考電壓和智慧校準電路,沒有VR調節,能降低溫度、濕度和振動的負面影響。自校準無需手動操作即可運行。iOST 使用簡單高效的智慧 RWC(讀寫-點擊)校準程式。首先,準備經過認證的精密 DMM 並將其連接到 iOST。在”讀取”電壓測量值後,”寫入”軟體控制台上的參考電壓欄位,然後”按一下”校準按鈕以啟動自校準。它將在10秒內自動完成。
    • 產量分析:工程師不僅可以使用內置測量工具 (V / I / R) 對單個通道進行靜態電氣特性測試,還可以使用動態 I-V 曲線或 V-T 曲線進行 FA 分析。它還支援產量率分析和結果/故障統計的功能。表格清單和圖形報表使工程師能夠更輕鬆、更快速地發現流程問題和異常跟蹤。
Specification:

System
Performance
PC Interface 1-Port USB
Max. Pin-Count 16384  (128CH~16384CH)
Test Time
(8192-pin System)
0.4mS Per Pin Typically
(Test Current= 100uA, CV= 3.0V)
A/D, D/A Resolution 16-bit
Handler Interface 1. Support Maximum 16-Site HIF (*1)
2. SOT, EOT, BIN1/BIN2/BIN3, RET Handshaking (*2)
3. TTL/CMOS, 3.3~15V, with Optical Isolator
Operation 1. 4-quadrant operation: Pin-to-Pin, Pin-to-All, All-to-Pin
2. Force Current Measure Voltage (FIMV), with Voltage Clamping
3. Force Voltage Measure Current (FVMI), with Current Clamping
4. Leakage Current Measurement
5. I-V Curve and V-T Curve analysis
6. Kelvin 4-wire Architecture
APMU
Resolution
Accuracy (*3)
Force Voltage ±10.0V 0.313mV ± 0.3%
Force Current ± 10.0uA 0.156nA ± 0.4%
 ± 0.1mA 1.562nA ± 0.2%
 ± 1.0mA 15.62nA ± 0.2%
 ± 10.0mA 156.2nA ± 0.2%
Measure Voltage  ± 1.0V 0.032mV ± 0.1% ± 1.0mV
 ± 2.0V 0.063mV ± 0.1% ± 1.0mV
 ± 4.0V 0.125mV ± 0.1% ± 2.0mV
 ± 8.0V 0.250mV ± 0.1% ± 4.0mV
Measure Current  ± 10.0uA 0.313nA ± 0.2% ± 0.01uA
 ± 100.0uA 3.125nA ± 0.1% ± 0.10uA
 ± 1.0mA 31.25nA ± 0.1% ± 1.00uA
 ± 10.0mA 312.5nA ± 0.1% ± 10.0uA
Measure Leakage (*4)  10~200nA 0.078nA ± 1.0% ± 0.5nA
 0.2-3.0uA 0.156nA ± 0.5% ± 5.0nA
Software
Application
OS Windows XP/XP Pro, Windows 7/8/10 or higher version
Operation 1. Production/Engineer mode controlled by Password
2. Smart Program Auto-Learning/Program Editor
3. Real-Time Production Status Monitoring
4. Manual Pin-Testing/Analysis, Production Statistics Logger/Analysis
5. One-Key Self-Calibration/Fully Self-Diagnostics
File I/O 1. Text Engineering Statistics file
2. Text Production Logger/Fault Analy sis file
3. Text Wire definition/Test Program file
4. Text System Configuration file
*1: Standard equipped 2-Site/8-Site HIF. 16-Site HIF is optional, TBD
*2: RET function of HIF is optional, TBD
*3: Accuracy ± (% of Display ± Offset),  1 Year, 23℃ ± 5℃
*4: Guaranteed by parametric design, not subject to production test