方案概要
最高支援 16,384 通道，以高速、準確、智慧的使用體驗，為半導體封裝測試流程帶來最高效率與品質。
與傳統的 Open-Short 量測設備相比，iOST 的設計具有更高的速度、更準確、更智慧的使用體驗，為客戶提供半導體封裝測試流程的最高效率與品質。
高引腳計數
最大通道數高達 16,384。基於即時多工處理設計，即使運行 16,384CH 系統，延遲時間也比上一代 2,048CH 系統縮短 50%。一個主機殼最多支援 2,048 個通道（每個主機殼有 16 片 CH 板，每片 128CH），LB 電纜與上一代系統完全相容。
高性能
- 高精度：所有系統電路均採用新一代工業標準元件（OPA、PGA、ADC、DAC…）進行精密量測，提高精度與速度，並降低溫度漂移。
- 高可靠性：內建高精度參考電壓與智慧自校準電路；整體採低功耗設計，量測單元電路完全隔離，即使在嘈雜環境中也能提供穩定可靠的資料。「一鍵自校準」簡化了傳統繁瑣的校準工作，確保測試作業始終正確。
- 高速：保留傳統儀器指令控制設計，並內建主動測試程式處理單元，可自動完成所有量測；PC 可同時並行處理與分析測試結果。專用的即時多工通道開關設計大幅縮短信號延遲，即使運行 16,384 通道，對 OST 測試時間的影響也非常有限。
智慧功能
- 自動學習：簡單的參數設定與強化演算法，讓結果分析更正確、測試條件更完整，達到立即測試與生產的目的。與舊版測試程式相容，無需重新建立即可更新。內建每個通道的電壓、電流、阻抗統計，搭配 I-V 曲線與 V-T 曲線圖形分析，讓工程師更快完成測試程式穩定性驗證與除錯。
- 完整自我診斷：HP16 系列 iOST 配備專屬 Diag-Board，採高精度、低溫漂電路設計，支援精確的 DUT 模擬與標準負載測試，並提供 APMU 力／量測精度驗證、LB 電纜阻抗品質驗證、CH 板漏電驗證、二極體曲線測試等自我驗證功能，量產時出現問題可快速排除、將損失降到最低。
- 精密自校準：採用精確穩定的參考電壓與智慧校準電路，無需 VR 調整，降低溫度、濕度與振動的影響。使用簡單高效的 RWC（讀取－寫入－點擊）校準程序：連接經認證的精密 DMM，讀取電壓值後寫入軟體控制台，按下校準按鈕，10 秒內自動完成。
- 良率分析：可用內建量測工具（V / I / R）對單一通道做靜態電氣特性測試，也能用動態 I-V 或 V-T 曲線做失效分析；支援良率分析與結果／故障統計，表格與圖形報表讓工程師更快發現製程問題。
商品規格
| System Performance | PC Interface | 1-Port USB | ||
| Max. Pin-Count | 16384 (128CH~16384CH) | |||
| Test Time (8192-pin System) | 0.4mS Per Pin Typically (Test Current = 100uA, CV = 3.0V) | |||
| A/D, D/A Resolution | 16-bit | |||
| Handler Interface | 1. Support Maximum 16-Site HIF (*1) 2. SOT, EOT, BIN1/BIN2/BIN3, RET Handshaking (*2) 3. TTL/CMOS, 3.3~15V, with Optical Isolator | |||
| Operation | 1. 4-quadrant operation: Pin-to-Pin, Pin-to-All, All-to-Pin 2. Force Current Measure Voltage (FIMV), with Voltage Clamping 3. Force Voltage Measure Current (FVMI), with Current Clamping 4. Leakage Current Measurement 5. I-V Curve and V-T Curve analysis 6. Kelvin 4-wire Architecture | |||
| APMU Resolution Accuracy (*3) | Force Voltage | ±10.0V | 0.313mV | ± 0.3% |
| Force Current | ± 10.0uA | 0.156nA | ± 0.4% | |
| ± 0.1mA | 1.562nA | ± 0.2% | ||
| ± 1.0mA | 15.62nA | ± 0.2% | ||
| ± 10.0mA | 156.2nA | ± 0.2% | ||
| Measure Voltage | ± 1.0V | 0.032mV | ± 0.1% ± 1.0mV | |
| ± 2.0V | 0.063mV | ± 0.1% ± 1.0mV | ||
| ± 4.0V | 0.125mV | ± 0.1% ± 2.0mV | ||
| ± 8.0V | 0.250mV | ± 0.1% ± 4.0mV | ||
| Measure Current | ± 10.0uA | 0.313nA | ± 0.2% ± 0.01uA | |
| ± 100.0uA | 3.125nA | ± 0.1% ± 0.10uA | ||
| ± 1.0mA | 31.25nA | ± 0.1% ± 1.00uA | ||
| ± 10.0mA | 312.5nA | ± 0.1% ± 10.0uA | ||
| Measure Leakage (*4) | 10~200nA | 0.078nA | ± 1.0% ± 0.5nA | |
| 0.2-3.0uA | 0.156nA | ± 0.5% ± 5.0nA | ||
| Software Application | OS | Windows XP/XP Pro, Windows 7/8/10 or higher version | ||
| Operation | 1. Production/Engineer mode controlled by Password 2. Smart Program Auto-Learning/Program Editor 3. Real-Time Production Status Monitoring 4. Manual Pin-Testing/Analysis, Production Statistics Logger/Analysis 5. One-Key Self-Calibration/Fully Self-Diagnostics | |||
| File I/O | 1. Text Engineering Statistics file 2. Text Production Logger/Fault Analysis file 3. Text Wire definition/Test Program file 4. Text System Configuration file | |||
| *1: Standard equipped 2-Site/8-Site HIF. 16-Site HIF is optional, TBD *2: RET function of HIF is optional, TBD *3: Accuracy ± (% of Display ± Offset), 1 Year, 23℃ ± 5℃ *4: Guaranteed by parametric design, not subject to production test | ||||
