Open-Short Tester（iOST）
最高支援 16,384 通道，即時多工處理設計，延遲比上一代縮短 50%，並與舊版測試程式相容。
- 最高 16,384 通道（128CH 起）
- 一鍵自校準、完整自我診斷
- I-V／V-T 曲線與良率分析
產品
半導體測試設備
自 2004 年投入開發的 Open-Short Tester，為半導體封裝測試帶來高速、準確、智慧的測試體驗。
Open-Short Tester（iOST）
產品特色
為量產測試而設計
高引腳計數
單一主機殼支援 2,048 通道，系統最高 16,384 通道，LB 電纜與上一代相容。
高精度
採新一代工業標準元件，提高精度與速度，並降低溫度漂移。
高可靠性
量測單元完全隔離，在嘈雜環境中也能提供穩定可靠的資料。
智慧分析
自動學習、自我診斷與良率統計，量產問題可快速排除。
「半導體測試設備」共有 1 個實際案例
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