產品

半導體測試設備

自 2004 年投入開發的 Open-Short Tester,為半導體封裝測試帶來高速、準確、智慧的測試體驗。

Open-Short Tester(iOST)

Open-Short Tester(iOST)

Open-Short Tester(iOST)

最高支援 16,384 通道,即時多工處理設計,延遲比上一代縮短 50%,並與舊版測試程式相容。

  • 最高 16,384 通道(128CH 起)
  • 一鍵自校準、完整自我診斷
  • I-V/V-T 曲線與良率分析
產品特色

為量產測試而設計

高引腳計數

單一主機殼支援 2,048 通道,系統最高 16,384 通道,LB 電纜與上一代相容。

高精度

採新一代工業標準元件,提高精度與速度,並降低溫度漂移。

高可靠性

量測單元完全隔離,在嘈雜環境中也能提供穩定可靠的資料。

智慧分析

自動學習、自我診斷與良率統計,量產問題可快速排除。

「半導體測試設備」共有 1 個實際案例

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